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SPETTROSCOPIA E METROLOGIA

SPETTROSCOPIA E METROLOGIA

Sviluppo di tecniche ad alta sensibilità e precisione in regioni spettrali poco accessibili. Spettroscopia di molecole di interesse ambientale. Spettroscopia e imaging a raggi X.
Sviluppo di tecniche metrologiche. Misura accurata di parametri fisici di componenti ottici. Fotometria e colorimetria. Magnetometria. Attività di certificazione, prove e accreditamento.

Partecipanti attuali:

Dipendenti
Avino Saverio

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Bartalini Saverio

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Bianchini Giovanni

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Borri Simone

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Brandi Fernando

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Cancio Pastor Pablo

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Consolino Luigi

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Cristoforetti Gabriele

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D'Amato Francesco

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De Natale Paolo

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De Rosa Maurizio

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Di Natale Gianluca

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Fontani Daniela

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Gabbanini Carlo

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Gagliardi Gianluca

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Giorgini Antonio

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Gorelli Federico Aiace

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Gozzini Silvia

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Jafrancesco David

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Lucchesini Alessandro

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Maddaloni Pasquale

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Malara Pietro

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Mazzotti Davide

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Mercatelli Luca

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Palchetti Luca

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Ricciardi Iolanda

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Rocco Alessandra

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Sani Elisa

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Sordini Andrea

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Tagliaferri Mauro

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Tognoni Elisabetta

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Viciani Silvia

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Assegnisti
Cappelli Francesco

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Associati
Foggi Paolo

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Giusfredi Giovanni

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Marinelli Carmela

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Santambrogio Gabriele Raimondo Giuliano

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Sasso Antonio

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Sciortino Silvio

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Siciliani de Cumis Mario

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Torre Renato

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Sedi coinvolte:

Sede di Arcetri

Largo Enrico Fermi 6, 50125 - Firenze.
Tel.: 055-23081, Fax: 055-2337755.

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Sede Secondaria di Napoli

c/o Comprensorio Olivetti
Via Campi Flegrei 34 - 80078 Pozzuoli (NA).
Tel.: 081-8675424/6, Fax: 081-8675420.

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Sede Secondaria "Adriano Gozzini" di Pisa

c/o Area di Ricerca CNR di Pisa.
Via G. Moruzzi, 1 - 56124 Pisa.
Tel.: 050 315-2235/2232/2443, Fax: 050 315-2247.

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Sede Secondaria di Sesto Fiorentino

c/o LENS.
Via Nello Carrara, 1 - 50019 Sesto Fiorentino.
Tel.: 055-4572090/2163/2169, Fax: 055-4574904.

 


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